[發明專利]用于連續探測器修正的脈沖X射線有效
| 申請號: | 200580043358.1 | 申請日: | 2005-12-05 |
| 公開(公告)號: | CN101080653A | 公開(公告)日: | 2007-11-28 |
| 發明(設計)人: | R·P·盧塔;M·A·查波;B·E·哈伍德;R·A·馬特森;C·J·弗雷托斯 | 申請(專利權)人: | 皇家飛利浦電子股份有限公司 |
| 主分類號: | G01T1/29 | 分類號: | G01T1/29 |
| 代理公司: | 中國專利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 王慶海;劉紅 |
| 地址: | 荷蘭艾*** | 國省代碼: | 荷蘭;NL |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 連續 探測器 修正 脈沖 射線 | ||
1.一種X射線照相成像設備(10),其包括:
第一輻射源(14),其將輻射束投射到設置對象(28)以用于檢 查的檢查區域(16)中;
其特征在于:探測器(18),其探測穿過檢查區域(16)的輻射 并將所探測的輻射轉換成電的探測器信號,該探測器信號表示所探測 的輻射和探測器的至少一個在時間上變化的特性,其中探測器(18) 包括X射線至模擬信號轉換層(22),該轉換層包括與光電二極管陣 列(26)耦合的閃爍體(24)或者包括直接轉換半導體;
修正裝置(38),其用于確定對探測器信號的修正值以便在探測 器信號的產生過程中多次補償探測器的至少一個在時間上變化的特 性,并且用該確定的修正值來修正探測器信號,其中變化的特性是偏 移B(t),并且所述修正裝置(38)包括用于測量探測器(18)的偏 移B(t)的偏移裝置(84);以及
用于快速發脈沖給第一輻射源(14)的柵極脈沖裝置(64),在 第一輻射源的打開時間t1和第一輻射源的關閉時間t2期間所述偏移 B(t)保持基本恒定,該偏移裝置(84)在第一輻射源的關閉時間t2測量偏移值B2,該偏移值B2等于在關閉時間t2期間的信號值S2,其 中柵極脈沖裝置(64)以每秒在1000到5000個脈沖之間的速率將第 一輻射源(14)打開和關閉,使得在每秒1000到5000次之間對偏移 B(t)進行重新測量。
2.如權利要求1中所述的設備,其中修正裝置(38)通過從所 探測的探測器信號減去所測量的偏移值B2來修正所探測的探測器信 號:
Sc1=A1X1-B2,其中
Sc1是在時間t1期間的修正信號;
A1是在時間t1期間的探測器(18)的增益;
X1是在時間t1期間入射到探測器(18)上的X射線強度;
B2是在時間t2期間探測器(18)的測量偏移值。
3.如權利要求1所述的設備,進一步包括:
用于激發探測器(18)的恒定強度XRef的第二受脈沖作用的源 (86,100,138);以及
用于快速發脈沖給第二受脈沖作用的源(86,100,138)的第二脈 沖裝置(88)。
4.如權利要求3中所述的設備,其中修正裝置(38)進一步包 括:
用于確定探測器(18)的校準增益ACal的校準裝置(92),該校 準增益ACal是關于信號SA和信號SB的強度被確定的,其中信號SA是 在時間tA期間在第二受脈沖作用的源(86,100,138)處于打開狀態 時進行測量的,以及信號SB是在時間tB期間在第二受脈沖作用的源 (86,100,138)處于關閉狀態時進行測量的:
ACal=[SA-SB]/XRef
XRef是第二受脈沖作用的源(86)的強度。
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