[發明專利]使用參數測量單元作為被測器件的電源有效
| 申請號: | 200580043108.8 | 申請日: | 2005-12-16 |
| 公開(公告)號: | CN101080640A | 公開(公告)日: | 2007-11-28 |
| 發明(設計)人: | 歐內斯特·P·沃克;羅納德·A·薩特斯奇夫 | 申請(專利權)人: | 泰拉丁公司 |
| 主分類號: | G01R31/02 | 分類號: | G01R31/02;G01R31/28;G01R31/26 |
| 代理公司: | 中原信達知識產權代理有限責任公司 | 代理人: | 谷惠敏;鐘強 |
| 地址: | 美國馬*** | 國省代碼: | 美國;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 使用 參數 測量 單元 作為 器件 電源 | ||
技術領域
本專利申請總的來說涉及測試器件,具體而言涉及使用參數測量單元作為器件的電源。
背景技術
自動測試設備(Automatic?test?equipment,ATE)指的是自動化的、通常由計算機驅動的、靠近測試器件的、諸如半導體、電子電路和印刷電路板之類的組件。參數測量單元(parametric?measurement?unit,PMU)通常是ATE的一部分。在器件測試期間利用PMU來測量器件管腳中諸如電壓和電流之類的參數以及校準那些參數。PMU嘗試確保在測試期間將恰當的參數值施加到被測器件(device?under?test,DUT)上。
在大多數測試過程期間被測器件都需要電源。在此以前,把獨立電源嵌入到ATE中。然而,獨立電源的使用將增加ATE的成本和尺寸。
發明內容
本專利申請描述了利用PMU作為DUT的電源的設備和方法,包括計算機程序產品。
通常,在一個方面,本發明涉及一種提供電流至DUT的設備。所述設備包括被配置成提供電流至器件的第一PMU和被配置成提供電流至器件的第二PMU。來自第二PMU的電流增大在器件處的來自第一PMU的電流。利用來自PMU的電流為DUT供電消除了對獨立電源的需要。因為其減少了ATE的成本和尺寸,所以這是有益的。
這方面可以包括一個或多個以下特征。所述設備可以包括一個或多個配置成提供電流到器件的附加PMU。來自一個或多個附加PMU的電流增大在器件處的來自第一和第二PMU的電流。第一和第二PMU可以具有基本上相同的結構,其包括用于輸出電流的驅動器和用于調節驅動器的電流輸出的反饋路徑。所述設備可以包括第三PMU,其被配置以檢測在DUT處的電壓。該電壓可以被用作到第一和第二PMU的輸入。第三PMU可以被配置成通過禁用第三PMU輸出電流到DUT的功能的方式來檢測電壓(例如,通過三態所述第三PMU)。所述設備可以是用于測試由DUT執行的功能的ATE的一部分;可以在作為ATE的一部分的單個芯片上實現第一、第二和第三PMU;以及ATE不需要包括除第一和第二PMU以外的電源。
通常,在另一個方面,本發明涉及一種提供電源到DUT的設備。所述設備包括多個PMU,每個PMU具有基本上相同的電路。多個PMU的每一個都被被配置成作為向DUT供電的電源或者作為檢測器件。多個PMU包括配置以檢測器件中電壓的第一PMU,其中第一PMU包括分接DUT的電壓的檢測路徑,以及至少一個附加PMU被配置成作為電源工作。至少一個附加PMU經由第一PMU接收電壓并根據經由第一PMU接收的電壓提供輸出電流。當PMU利用電流向器件供電時,檢測路徑可被用于確保DUT中的恒定電壓。
該方面可以包括一個或多個以下特征。所述至少一個附加PMU可以包括:被配置成作為電源的第二PMU,其中第二PMU包括輸出電流至DUT的第二驅動器,并且其中第二驅動器經由第一PMU接收電壓;以及被配置成作為電源工作的第三PMU,其中第三PMU包括輸出電流至DUT的第三驅動器,并且其中第三驅動器經由第一PMU接收電壓;和/或配置成作為電源工作的第四PMU,其中第四PMU包括輸出電流到DUT的第四驅動器,以及其中第四驅動器接收外部電壓和經由第一PMU接收的電壓這二者來作為輸入。
第二、第三和第四PMU的每一個都可以包括反饋路徑。第二PMU的反饋路徑可以提供輸入到第二驅動器;第三PMU的反饋路徑可以提供輸入到第三驅動器;以及第四PMU的反饋路徑可以提供輸入到第四驅動器。第二PMU的反饋路徑可以分接在DUT和第二驅動器之間的電壓,第三PMU的反饋路徑可以分接在DUT和第三驅動器之間的電壓。
第一PMU可以被配置成通過禁用第一PMU中使得PMU能夠作為電源工作的功能的方式來檢測器件中的電壓。第一PMU中使得第一PMU能夠作為電源工作的功能可以存在于驅動器中。驅動器可以通過三態驅動器的方式來禁用。所述設備可以是用于測試由DUT執行的功能的一部分的ATE;多個PMU可以在作為ATE的一部分的單個芯片上實現;并且ATE可以不包括除多個PMU以外的電源。
通常,在另一個方面,本發明涉及一種提供電流到DUT的方法。所述方法包括:檢測提供至DUT的輸出電流,提供與輸出電流對應的電壓來作為到多個PMU的輸入,輸出來自多個PMU的每一個的電流,其中來自每一個PMU的電流基于電壓,以及在DUT中結合來自多個PMU的電流。檢測電流的步驟可以包括配置第一PMU來檢測輸出電流。第一PMU可以提供電壓到多個PMU。
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