[發(fā)明專利]用于通過結(jié)合探測(cè)和無接觸整體測(cè)量而測(cè)量鏡片的光焦度的方法和設(shè)備

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 200580041544.1
• 申請(qǐng)日: 2005-11-24
• 公開（公告）號(hào): CN101069081A
• 公開（公告）日: 2007-11-07
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: F·迪沃
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 埃西勒國際通用光學(xué)公司
• 主分類號(hào): G01M11/02
• 分類號(hào): G01M11/02
• 代理公司: 北京市中咨律師事務(wù)所
• 代理人: 楊曉光;李崢

1.一種用于在測(cè)量點(diǎn)測(cè)量鏡片的局部頂焦度的方法，所述方法包括： 將鏡片放置在支架上的步驟；以及無接觸地光學(xué)測(cè)量在圍繞所述鏡片的所 述測(cè)量點(diǎn)而限定的局部區(qū)域中的所述鏡片的焦點(diǎn)位置的局部值的步驟，所 述方法的特征在于，還包括：至少一個(gè)通過與所述支架不同的探測(cè)器裝置 探測(cè)所述鏡片的步驟，在此期間，確定在所述鏡片的表面之一上的所述測(cè) 量點(diǎn)的軸向位置；以及，將通過探測(cè)而獲得的所述測(cè)量點(diǎn)的軸向位置與從 所述無接觸地光學(xué)測(cè)量確定的在所述測(cè)量點(diǎn)的鏡片的焦點(diǎn)位置的局部值結(jié) 合，以便推導(dǎo)出在所述測(cè)量點(diǎn)的所述鏡片的至少一個(gè)頂焦度。

2.根據(jù)權(quán)利要求1的方法，其中，光學(xué)測(cè)量所述鏡片的焦點(diǎn)位置的局 部值包括：

整體光學(xué)測(cè)量步驟，在此期間，在圍繞所述鏡片的多個(gè)點(diǎn)的多個(gè)局部 區(qū)域測(cè)量所述焦點(diǎn)位置的局部值，所述鏡片的多個(gè)點(diǎn)包括關(guān)注的測(cè)量點(diǎn)和 其他點(diǎn)；

選擇步驟，用于選擇對(duì)于所述鏡片的期望的測(cè)量點(diǎn)；以及

推導(dǎo)步驟，用于從所述整體光學(xué)測(cè)量推導(dǎo)出在所述鏡片的所述測(cè)量點(diǎn) 的焦點(diǎn)位置的局部值。

3.根據(jù)權(quán)利要求1的方法，其中，所述探測(cè)器裝置在鏡片的至少一個(gè) 基本軸向的方向上可相對(duì)于所述支架移動(dòng)。

4.根據(jù)權(quán)利要求3的方法，其中，所述探測(cè)器裝置還在所述鏡片的基 本橫向方向上可移動(dòng)。

5.根據(jù)權(quán)利要求1的方法，其中，在所述鏡片的后表面上探測(cè)所述測(cè) 量點(diǎn)。

6.根據(jù)權(quán)利要求1的方法，其中：

在所述測(cè)量步驟期間，確定在所述鏡片的測(cè)量點(diǎn)的鏡片的頂焦度的近 似值；以及

根據(jù)通過探測(cè)獲得的所述測(cè)量點(diǎn)的位置，校正通過測(cè)量獲得的所述鏡 片的頂焦度的近似值。

7.根據(jù)權(quán)利要求1的方法，其中，所述鏡片的測(cè)量點(diǎn)的軸向位置是用 于確定在所述測(cè)量點(diǎn)的頂焦度的鏡片的測(cè)量點(diǎn)的唯一幾何特性。

8.一種用于自動(dòng)制備要安裝的鏡片的方法，所述方法包括根據(jù)在前的 權(quán)利要求中任一項(xiàng)的方法，并且還包括在切除裝置(6)上阻滯所述鏡片的 步驟和切割所述鏡片的步驟，對(duì)所述鏡片的探測(cè)包括在所述切除裝置上阻 滯所述鏡片之前的第一探測(cè)步驟。

9.一種用于在測(cè)量點(diǎn)測(cè)量鏡片(L1，L2，L3)的局部頂焦度的設(shè)備， 所述設(shè)備包括：無接觸光學(xué)測(cè)量裝置(5)，其適于發(fā)送這樣的信號(hào)，所述 信號(hào)至少表示在圍繞所述鏡片的所述測(cè)量點(diǎn)而限定的局部區(qū)域上的所述鏡 片的焦點(diǎn)位置的局部值；以及電子和計(jì)算機(jī)處理器系統(tǒng)(100)，其適于處 理由所述無接觸光學(xué)測(cè)量裝置(5)發(fā)送的所述信號(hào)，并且所述設(shè)備的特征 在于：其還包括用于接納所述鏡片的支架和探測(cè)器裝置(7)，所述探測(cè)器 裝置(7)不同于所述支架并用于探測(cè)所述鏡片，并且適于確定在所述鏡片 的表面之一上的所述測(cè)量點(diǎn)的軸向位置；以及，所述電子和計(jì)算機(jī)處理器 系統(tǒng)(100)包括計(jì)算指令，用于將通過探測(cè)而獲得的所述測(cè)量點(diǎn)的軸向位 置與由所述電子和計(jì)算機(jī)處理器系統(tǒng)(100)根據(jù)由所述無接觸光學(xué)測(cè)量裝 置(5)發(fā)送的所述信號(hào)而確定的在所述測(cè)量點(diǎn)的鏡片的所述焦點(diǎn)位置的局 部值結(jié)合，以從其推導(dǎo)出在所述測(cè)量點(diǎn)的所述鏡片的至少一個(gè)頂焦度。

10.根據(jù)權(quán)利要求9的設(shè)備，其中，所述無接觸光學(xué)測(cè)量裝置(5)適 于發(fā)送這樣的信號(hào)，所述信號(hào)表示整體光學(xué)測(cè)量，所述整體光學(xué)測(cè)量具有 在圍繞所述鏡片的多個(gè)點(diǎn)的多個(gè)局部區(qū)域上的焦點(diǎn)位置的局部值，所述多 個(gè)點(diǎn)包括關(guān)注的測(cè)量點(diǎn)和其他點(diǎn)，所述電子和計(jì)算機(jī)處理器系統(tǒng)(100)適 于處理由所述無接觸光學(xué)測(cè)量裝置(5)發(fā)送的所述信號(hào)，以選擇所述鏡片 的期望的測(cè)量點(diǎn)，以從所述整體光學(xué)測(cè)量推導(dǎo)出在所述鏡片的所述測(cè)量點(diǎn) 的所述焦點(diǎn)位置的局部值。

11.根據(jù)權(quán)利要求9的設(shè)備，其中所述探測(cè)器裝置在所述鏡片的至少 一個(gè)基本軸向的方向上可相對(duì)于所述支架移動(dòng)。

12.根據(jù)權(quán)利要求11的設(shè)備，其中，所述探測(cè)器裝置(7)還在所述 鏡片的基本橫向的方向上可移動(dòng)。