[發明專利]光記錄介質及其記錄方法和光記錄介質的評價方法

無效

• 申請號: 200580038629.4
• 申請日: 2005-09-13
• 公開（公告）號: CN101065799A
• 公開（公告）日: 2007-10-31
• 發明（設計）人: 加藤將紀;伊藤和典;出口浩司;大倉浩子;安部美樹子;關口洋義
• 申請（專利權）人: 株式會社理光
• 主分類號: G11B7/0045
• 分類號: G11B7/0045;G11B7/125
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所
• 代理人: 宋莉

1.一種對應于不同記錄速度的光記錄介質的記錄方法，包括：

用具有m個脈沖組的激光照射介質，其中每個脈沖組都包括功率為Pw的加熱脈沖和功率為Pc的冷卻脈沖，其中m是自然數；以及

用激光以掃描速度v掃描所述介質來在該介質上記錄長度均為nT的標記，其中n是3或更大的自然數，T是時鐘周期，且滿足m＜n的關系，

其中：

作為第m個冷卻脈沖的最后冷卻脈沖的長度T_CPn根據掃描速度v使用下述函數(1)和(2)來確定，

在v＜v₀的范圍內，T_CPn/T＝f_1，n(v)????????????函數(1)

在v≥v₀的范圍內，T_CPn/T＝f_2，n(v)????????????函數(2)

其中f_1，n(v)和f_2，n(v)均表示掃描速度v的連續函數以滿足f_1，n(v₀)＞f_2，n(v₀)的關系；

f_1，n(v)和f_2，n(v)均滿足以下條件：其中異常標記的存在比例是1.0×10^-4或更少，該異常標記的存在比例是異常標記數量和正常標記數量的比例，正常標記滿足L/nT≥n-0.5的要求且異常標記滿足L/nT＜n-0.5的要求，其中L是通過再現記錄標記獲得的每個再現標記的長度，并且

v₀是所選擇的滿足異常標記的存在比例是1.0×10^-4或更少的任意掃描速度。

2.根據權利要求1的光記錄介質的記錄方法，進一步包括根據掃描速度v，控制作為第m個加熱脈沖的最后加熱脈沖的長度T_LPn。

3.根據權利要求1的光記錄介質的記錄方法，其中f_1，n(v)和f_2，n(v)中的至少一個是掃描速度v的線性函數。

4.根據權利要求1的光記錄介質的記錄方法，其中當n是偶數時函數m＝n/2成立，并且當n是奇數時函數m＝(n-1)/2成立。

5.根據權利要求1的光記錄介質的記錄方法，其中，滿足v_H/v_L≥2.4且0.4v_H/v_L≤v₀≤0.8v_H的函數，其中該介質的最高記錄速度由v_H表示并且該介質的最低記錄速度由v_L表示。