[發明專利]用于測量條形體沿寬度方向的端部位置的方法和裝置，以及用于測量條形體沿寬度方向的中心位置的方法和裝置

有效

• 申請號: 200580037459.8
• 申請日: 2005-09-12
• 公開（公告）號: CN101052858A
• 公開（公告）日: 2007-10-10
• 發明（設計）人: 松本幸一;山田健夫
• 申請（專利權）人: 株式會社尼利可
• 主分類號: G01B15/00
• 分類號: G01B15/00;G01S13/88
• 代理公司: 中原信達知識產權代理有限責任公司
• 代理人: 車文;代易寧

1.一種用于測量移動的冷軋條沿寬度方向的端部位置的方法，其中用來自天線的通過M序列信號調制的電磁波照射該冷軋條的沿寬度方向的端部，所述電磁波包括具有相對于所述冷軋條的長度方向有較高反射性的極化平面的電磁波分量，并且所述冷軋條的邊緣相對于該電磁波分量具有足夠的長度，從而獲得具有用于進行測量的足夠強度的反射電磁波，被所述冷軋條的所述沿寬度方向的端部反射的電磁波由所述天線接收，從而根據發射所述電磁波的時間點與檢測到反射的電磁波的時間點之間的時間差，來測量所述冷軋條沿寬度方向的端部的位置。

2.一種用于測量移動的冷軋條沿寬度方向的中心位置的方法，其中，用來自第一天線的通過M序列信號調制的電磁波照射該冷軋條的沿寬度方向的第一端部，所述電磁波包括具有相對于所述冷軋條的長度方向有較高反射性的極化平面的電磁波分量，并且所述冷軋條的邊緣相對于該電磁波分量具有足夠的長度，從而獲得具有用于進行測量的足夠強度的反射電磁波，由所述第一天線接收被沿寬度方向的第一端部反射的電磁波，根據發射所述電磁波的時間點與檢測到所述反射電磁波的時間點之間的時間差，來確定所述冷軋條沿寬度方向的第一端部的位置，用來自第二天線的通過M序列信號調制的電磁波照射該冷軋條的沿寬度方向的第二端部，所述電磁波包括具有相對于所述冷軋條的長度方向有較高反射性的極化平面的電磁波分量，并且所述冷軋條的邊緣相對于該電磁波分量具有足夠的長度，從而獲得具有用于進行測量的足夠強度的反射電磁波，由所述第二天線接收被沿寬度方向的第二端部反射的電磁波，根據發射所述電磁波的時間點與檢測到反射的電磁波的時間點之間的時間差，來確定所述冷軋條沿寬度方向的第二端部的位置，并且從沿寬度方向的第一端部的位置以及沿寬度方向的第二端部的位置，來測量所述冷軋條沿寬度方向的中心位置。

3.根據權利要求2所述的用于測量冷軋條沿寬度方向的中心位置的方法，其中，采用均具有對電磁波發射表面進行氣體吹洗的功能的天線作為所述第一天線和第二天線。

4.一種用于測量移動的冷軋條沿寬度方向的端部位置的設備，該設備包括：

向該冷軋條的沿寬度方向的端部發射通過M序列信號調制的電磁波并接收沿寬度方向的端部反射的電磁波的天線，所述電磁波包括具有相對于所述冷軋條的長度方向有較高反射性的極化平面的電磁波分量，并且所述冷軋條的邊緣相對于該電磁波分量具有足夠的長度，從而獲得具有用于進行測量的足夠強度的反射電磁波；

用于確定發射所述電磁波的時間點與檢測到反射的電磁波的時間點之間的時間差的裝置；以及

用于根據這樣確定的所述時間差來確定所述冷軋條沿寬度方向的端部的位置的裝置。

5.一種用于測量移動的冷軋條沿寬度方向的中心位置的設備，該設備包括：

向該冷軋條的沿寬度方向的第一端部發射通過M序列信號調制的電磁波并接收沿寬度方向的第一端部反射的電磁波的第一天線，所述電磁波包括具有相對于所述冷軋條的長度方向有較高反射性的極化平面的電磁波分量，并且所述冷軋條的邊緣相對于該電磁波分量具有足夠的長度，從而獲得具有用于進行測量的足夠強度的反射電磁波；

用于測量發射所述電磁波的時間點與檢測到反射的電磁波的時間點之間的時間差的裝置；

用于根據所測量的時間差來確定所述冷軋條沿寬度方向的第一端部的位置的裝置；

向該冷軋條的沿寬度方向的第二端部發射通過M序列信號調制的電磁波并接收沿寬度方向的第二端部反射的電磁波的第二天線，所述電磁波包括具有相對于所述冷軋條的長度方向有較高反射性的極化平面的電磁波分量，并且所述冷軋條的邊緣相對于該電磁波分量具有足夠的長度，從而獲得具有用于進行測量的足夠強度的反射電磁波；

用于測量發射所述電磁波的時間點與檢測到反射的電磁波的時間點之間的時間差的裝置；

用于根據所測量的時間差來確定所述冷軋條沿寬度方向的第二端部的位置的裝置；以及

用于從沿寬度方向的第一端部的位置和沿寬度方向的第二端部的位置檢測所述冷軋條沿寬度方向的中心位置的裝置。

6.根據權利要求5所述的用于測量冷軋條沿寬度方向的中心位置的設備，其中，所述第一天線和第二天線均具有對電磁波發射表面進行氣體吹洗的功能。