[發明專利]光學檢測器結構以及在單片集成光電裝置中作為反饋控制的應用

有效

• 申請號: 200580035638.8
• 申請日: 2005-10-19
• 公開（公告）號: CN101283300A
• 公開（公告）日: 2008-10-08
• 發明（設計）人: 大衛·佩德;卡爾潘都·夏斯特里;羅伯特·蒙哥馬利;普拉卡什·約托斯卡;威普庫馬·帕特爾;瑪麗·納多
• 申請（專利權）人: 斯歐普迪克爾股份有限公司
• 主分類號: G02B6/12
• 分類號: G02B6/12;G02B6/10
• 代理公司: 北京安信方達知識產權代理有限公司
• 代理人: 霍育棟;鄭霞

1.?一種單片光電反饋裝置，其用于控制絕緣體上硅(SOI)結構中形成的至少一個光學設備中的光，所述單片光反饋裝置形成在相同的所述絕緣體上硅結構中，并且包括：

至少一個光學檢測設備，其設置成接收傳播通過所述至少一個光學設備的光信號的一部分，以測量來自所述至少一個光學設備的輸出光信號功率；以及

控制電子器件模塊，其響應于來自所述至少一個光學檢測設備的所述輸出信號，將所述測量的輸出信號功率與預定的值進行比較，以及基于所述比較將反饋控制信號施加到所述至少一個光學設備。

2.?根據權利要求1所述的單片光電反饋裝置，其中，所述裝置還包括光學耦合波導，所述光學耦合波導設置在所述至少一個光學檢測設備和所述至少一個光學設備之間，以使所述傳播的光信號的一部分引出來，并將所述引出來的部分耦合進所述至少一個光學檢測設備的輸入中。

3.?根據權利要求1所述的單片光電反饋裝置，其中，所述至少一個光學檢測設備包括沿所述至少一個光學設備的輸出波導設置的內嵌光學檢測設備。

4.?根據權利要求1所述的單片光電反饋裝置，其中，所述裝置還包括模擬/數字轉換器，所述模擬/數字轉換器設置在所述至少一個光學檢測設備的輸出和所述控制電子器件模塊的輸入之間，用于將測量的模擬信號值轉換為由所述控制電子器件模塊使用的數字表示。

5.?根據權利要求1所述的單片光電反饋裝置，其中，所述裝置還包括存儲模塊，所述存儲模塊包括設置于所述絕緣體上硅結構中并連接至所述控制電子器件的查找表，所述查找表存儲由所述控制電子器件使用的期望的光功率值。

6.?根據權利要求1所述的單片光電反饋裝置，其中，所述裝置還包括用于在所述控制電子器件和外部控制電路之間傳輸/接收信號的通信接口。

7.?根據權利要求6所述的單片光電反饋裝置，其中，所述通信接口提供用于將初始值存儲于所述控制電子器件中的輸入通信路徑。

8.?根據權利要求6所述的單片光電反饋裝置，其中，所述通信接口提供用于詢問所述控制電子器件以確定其性能的輸出通信路徑。

9.?根據權利要求1所述的單片光電反饋裝置，其中，所述至少一個光學設備包括多個光學設備。

10.?根據權利要求9所述的單片光電反饋裝置，其中，所述裝置還包括用于控制所述多個光學設備和所述控制電子器件之間的所述接口的電子選擇器。

11.?根據權利要求1所述的單片光電反饋裝置，其中，所述至少一個光學檢測設備包括一對光學檢測設備。

12.?根據權利要求11所述的單片光電反饋裝置，其中，所述一對光學檢測設備中的第一光學檢測設備沿所述絕緣體上硅結構中的輸入光波導部分設置，以及余下的第二光學檢測設備沿所述絕緣體上硅結構中的輸出光波導部分設置。

13.?根據權利要求12所述的單片光電反饋裝置，其中，所述光學設備包括至少一個光學濾波器，所述至少一個光學濾波器設置在所述第一和第二光學檢測設備之間，所述反饋裝置用于執行波長濾波反饋控制。

14.?根據權利要求12所述的單片光電反饋裝置，其中，所述光學設備包括至少一個光學波長阻擋設備，其設置在所述第一和第二光學檢測設備之間，所述反饋裝置用于調整要阻擋的選擇的波長。

15.?根據權利要求12所述的單片光電反饋裝置，其中，所述光學設備包括至少一個可變光學衰減器，所述至少一個可變光學衰減器設置于所述第一和第二光學檢測設備之間，所述反饋裝置用于執行衰減調節反饋控制。

16.?根據權利要求1所述的單片光電反饋裝置，其中，光學設備包括光學調制器，其中控制元件輸出連接到所述光學調制器的移相部分。

17.?根據權利要求1所述的單片光電反饋裝置，其中，所述光學設備包括至少一個光學耦合器，其中所述反饋裝置用于調節所述光學耦合器和所述至少一個光學設備之間的耦合效率。

18.?根據權利要求17所述的單片光電反饋裝置，其中，所述至少一個光學耦合器包括光學棱鏡耦合器，其中控制元件輸出用于控制光信號相對于所述光學棱鏡耦合器的方向和/或位置。