[發明專利]估測裂縫幾何形狀的方法，用于該方法的組合物和制品

有效

• 申請號: 200580033875.0
• 申請日: 2005-10-04
• 公開（公告）號: CN101123890A
• 公開（公告）日: 2008-02-13
• 發明（設計）人: S·M·麥卡錫;R·R·麥克丹尼爾;M·L·謝里夫;J·弗勞爾斯
• 申請（專利權）人: 禾遜專業化學公司
• 主分類號: A23L2/02
• 分類號: A23L2/02
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所
• 代理人: 龍傳紅

1.測定地下裂縫的裂縫幾何形狀的方法，包括：

在裂縫中引入目標顆粒和/或支撐劑；

向裂縫發送具有約300兆赫到約100千兆赫的頻率的電磁輻射；和

分析來自于目標顆粒和/或裂縫表面的反射信號以確定裂縫幾何形狀。

2.權利要求1的方法，其中目標顆粒和/或支撐劑是導電的、非導電的、半導電的，或它們的組合，其中目標顆粒和/或支撐劑占據裂縫的末端或從裂縫發散的分支的末端的位置。

3.權利要求2的方法，其中導電性顆粒和/或支撐劑包括金屬顆粒和/或支撐劑、有金屬涂層的非導電的顆粒和/或支撐劑、碳質顆粒和/或支撐劑、導電的金屬氧化物、導電聚合物顆粒，或包含至少一種的上述顆粒的組合。

4.權利要求3的方法，其中該金屬顆粒和/或支撐劑包括金屬，和其中金屬包括銅、鋁、鋼、鐵、黃銅、鎳、釩、鈷、銀、或包含至少一種的上述金屬的組合。

5.權利要求3的方法，其中導電性顆粒和/或支撐劑包括碳質顆粒或導電的金屬氧化物，和其中該碳質顆粒是炭黑、焦炭、石墨顆粒、富勒烯、碳納米管、單壁碳納米管、雙壁碳納米管、多壁碳納米管，或包含至少一種的上述顆粒的組合。

6.權利要求1的方法，其中目標顆粒和/或支撐劑包括介電常數大于或等于約2的高介電常數顆粒和/或支撐劑。

7.權利要求1的方法，其中目標顆粒和/或支撐劑包括介電常數大于或等于約6的高介電常數顆粒和/或支撐劑。

8.權利要求6的方法，其中高介電常數顆粒和/或支撐劑包括在表面上置有陶瓷涂層的金屬基材；其中該陶瓷涂層具有大于或等于約2的介電常數。

9.權利要求6的方法，其中高介電常數顆粒包括介電常數大于或等于約2的陶瓷。

10.權利要求9的方法，其中金屬基材包括銅、鋁、鋼、鐵、黃銅、鎳、釩、鈷、銀，或包含至少一種的上述金屬的組合。

11.權利要求8的方法，其中陶瓷包括鈣鈦礦。

12.權利要求8的方法，其中陶瓷包括鋰鉭氧化物(LiTaO₃)、鋰鈮氧化物(LiNbO₃)、CaCu₃Ti₄O₁₂、燒結氧化釔穩定二氧化鋯(YSZ)、鑭鍶鎵鎂氧化物(LSGM)、氧化鋁、氧化鉭，或包含至少一種的上述陶瓷的組合。

13.權利要求1的方法，其中電磁輻射具有小于或等于約3千兆赫的頻率。

14.測定地下裂縫的裂縫幾何形狀的方法，包括：

在裂縫中引入目標顆粒和/或支撐劑；其中目標顆粒和/或支撐劑包括介電常數大于或等于約2的高介電常數陶瓷；

向裂縫發送具有小于或等于約3千兆赫的頻率的電磁輻射；和

分析來自于目標顆粒的反射信號以確定裂縫幾何形狀。

15.權利要求14的方法，其中目標顆粒和/或支撐劑包括介電常數大于或等于約6的高介電常數陶瓷。

16.權利要求14的方法，其中目標顆粒和/或支撐劑包括在表面上置有陶瓷涂層的金屬基材；其中該陶瓷涂層具有大于或等于約20的介電常數。

17.權利要求16的方法，其中金屬基材包括銅、鋁、鋼、鐵、黃銅、鎳、釩、鈷、銀，或包含至少一種的上述金屬的組合。

18.權利要求14的方法，其中高介電常數陶瓷包括鈣鈦礦。

19.權利要求14的方法，其中高介電常數陶瓷包括鋰鉭氧化物(LiTaO₃)、鋰鈮氧化物(LiNbO₃)、CaCu₃Ti₄O₁₂、燒結氧化釔穩定二氧化鋯(YSZ)、鑭鍶鎵鎂氧化物(LSGM)、氧化鋁、氧化鉭、或包含至少一種的上述陶瓷的組合。

20.權利要求14的方法，其中電磁輻射具有小于或等于約1千兆赫的頻率。