[發明專利]內阻抗檢測設備、內阻抗檢測方法、退化程度檢測設備和退化程度檢測方法有效
| 申請號： | 200580028606.5 | 申請日： | 2005-06-23 |
| 公開（公告）號： | CN101010596A | 公開（公告）日： | 2007-08-01 |
| 發明（設計）人： | 石井光德 | 申請（專利權）人： | 日本電氣株式會社;富士重工業株式會社 |
| 主分類號： | G01R31/36 | 分類號： | G01R31/36 |
| 代理公司： | 中原信達知識產權代理有限責任公司 | 代理人： | 孫志湧;陸錦華 |
| 地址： | 日本*** | 國省代碼： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 阻抗 檢測 設備 方法 退化 程度 | ||
【說明書】：
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