[發(fā)明專利]在半導體器件中評估區(qū)域電特性之方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200580025772.X | 申請日： | 2005-05-25 |
| 公開（公告）號： | CN101010804A | 公開（公告）日： | 2007-08-01 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | F·維爾布賴特;G·布爾巴赫;K·維喬雷克;M·霍斯特曼 | 申請（專利權(quán)）人： | 先進微裝置公司 |
| 主分類號： | H01L23/544 | 分類號： | H01L23/544 |
| 代理公司： | 北京紀凱知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人： | 戈泊;程偉 |
| 地址： | 美國加利*** | 國省代碼： | 美國;US |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 半導體器件 評估 區(qū)域 特性 方法 | ||
【說明書】：
下載完整專利技術(shù)內(nèi)容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息，商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于先進微裝置公司，未經(jīng)先進微裝置公司許可，擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作，請聯(lián)系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/200580025772.X/2.html，轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
