[發明專利]量子相干系統和操作

無效

• 申請號: 200580024862.7
• 申請日: 2005-06-28
• 公開（公告）號: CN101189627A
• 公開（公告）日: 2008-05-28
• 發明（設計）人: W·J·蒙羅;T·P·斯皮勒;K·內莫托
• 申請（專利權）人: 惠普開發有限公司
• 主分類號: G06N1/00
• 分類號: G06N1/00
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司
• 代理人: 曾祥夌;劉杰

1.一種量子相干系統，包含：

第一受控移相器(1210)，具有第一相位常數；

第二受控移相器(1220)，具有是所述第一相位常數的負數的第二相位常數；

探測電磁模，穿過所述第一受控移相器(1210)和所述第二受控移相器(1220)；

檢測器(1250)，被放置以測量所述探測電磁模中的相移；

第一狀態分離器(1232)，具有第一輸出模和第二輸出模，其中所述第一狀態分離器(1232)的第一輸出模控制所述第一受控移相器(1210)；以及

第二狀態分離器(1242)，具有第一輸出模和第二輸出模，其中所述第二狀態分離器(1242)的第一輸出模控制所述第二受控移相器(1220)。

2.如權利要求1所述的系統，其中所述第一狀態分離器(1232)包含第一偏振分束器(1230)，并且所述第二狀態分離器(1242)包含第二偏振分束器(1240)。

3.如權利要求1或2所述的系統，還包含：

第三受控移相器(1215)，具有所述第二相位常數并且受所述第一狀態分離器(1232)的第二輸出模控制；以及

第四受控移相器(1225)，具有所述第一相位常數并且受所述第二狀態分離器(1242)的第二輸出模控制。

4.如權利要求1、2或3所述的系統，還包含：

第一狀態組合器(1237)，被放置以重新組合所述第一狀態分離器(1232)的第一模和第二模；以及

第二狀態組合器(1247)，被放置以重新組合所述第二狀態分離器(1242)的第一模和第二模。

5.如前面任一項權利要求所述的系統，還包含在來自所述檢測器(1250)的測量信號控制下的狀態校正光學部件(1260)。

6.如前面任一項權利要求所述的系統，其中所述系統作為糾纏器(1200)工作。

7.如權利要求6所述的系統，其中所述糾纏器(1200)在CNOT門(1400)中使用。

8.如權利要求1至5中任一項所述的系統，其中所述系統作為宇稱檢測器(1290)工作。

9.一種宇稱檢測器，包含：

第一受控移相器(1210)，具有第一相位常數；

第二受控移相器(1220)，具有是所述第一相位常數的負數的第二相位常數；

探測電磁模，穿過所述第一受控移相器(1210)和所述第二受控移相器(1220)；

測量系統(1250)，被放置以測量所述探測電磁模中的相移；

第一偏振分束器(1230)，具有第一輸出模和第二輸出模，其中所述第一偏振分束器(1230)的第一輸出模控制所述第一受控移相器(1210)；以及

第二偏振分束器(1240)，具有第一輸出模和第二輸出模，其中所述第二偏振分束器(1240)的第一輸出模控制所述第二受控移相器(1220)。

10.如權利要求9所述的宇稱檢測器，還包含：

第三受控移相器(1215)，具有所述第二相位常數并且受所述第一偏振分束器(1230)的第二輸出模控制；以及

第四受控移相器(1225)，具有所述第一相位常數并且受所述第二偏振分束器(1240)的第二輸出模控制。

11.如權利要求9或10所述的宇稱檢測器，還包含在來自所述測量系統(1250)的信號控制下的狀態校正光學部件(1260)。

12.如權利要求11所述的宇稱檢測器，其中所述校正光學部件(1260)響應于所述測量系統(1250)指示所述第一偏振分束器(1230)和所述第二偏振分束器(1240)的輸出模的狀態具有第一宇稱性而改變所述狀態。

13.如權利要求9、10或11所述的宇稱檢測器，其中所述測量系統(1250)以高概率將所述第一偏振分束器(1230)和所述第二偏振分束器(1240)的輸出模的狀態投射到第一狀態和第二狀態之一上，所述第一狀態具有第一宇稱性以及所述第二狀態具有與所述第一宇稱性不同的第二宇稱性。

14.如權利要求9至13中任一項所述的宇稱檢測器，其中所述測量系統(1250)包含零差檢測器。