[發明專利]適用于對于待測的物體上的薄層的厚度進行測量的測量裝置的標定機構無效
| 申請號： | 200580018528.0 | 申請日： | 2005-06-06 |
| 公開（公告）號： | CN1997868A | 公開（公告）日： | 2007-07-11 |
| 發明（設計）人： | H·費希爾 | 申請（專利權）人： | 赫爾穆特·費希爾地產兩合公司 |
| 主分類號： | G01B7/06 | 分類號： | G01B7/06 |
| 代理公司： | 中國專利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 曹若;趙辛 |
| 地址： | 德國辛*** | 國省代碼： | 德國;DE |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 適用于 對于 物體 薄層 厚度 進行 測量 裝置 標定 機構 | ||
【權利要求書】：
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