[發明專利]圖像放大裝置及程序無效
| 申請號: | 200580014851.0 | 申請日: | 2005-05-12 |
| 公開(公告)號: | CN101052990A | 公開(公告)日: | 2007-10-10 |
| 發明(設計)人: | 竹內悟 | 申請(專利權)人: | 三洋電機株式會社 |
| 主分類號: | G06T3/40 | 分類號: | G06T3/40;H04N1/393 |
| 代理公司: | 中科專利商標代理有限責任公司 | 代理人: | 李香蘭 |
| 地址: | 日本國*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 圖像 放大 裝置 程序 | ||
1、一種圖像放大裝置,根據原圖像數據的像素值來設定內插像素的亮度值,獲得放大圖像的圖像數據,
該圖像放大裝置具備:
檢測機構,從上述原圖像數據中檢測出邊緣;
推定機構,對上述檢測機構所檢測出的邊緣位置的連續微分可能次數進行推定;
選擇機構,基于上述推定機構所推定的連續微分可能次數,選擇插值函數;和
內插機構,基于上述選擇機構所選擇的插值函數,進行上述邊緣附近的像素內插處理。
2、如權利要求1所述圖像放大裝置,其特征在于:
上述推定機構基于上述邊緣位置的利普茲指數來推定連續微分可能次數。
3、一種圖像放大裝置,根據原圖像數據的像素值來設定內插像素的亮度值,獲得放大圖像的圖像數據,
該圖像放大裝置具備:
檢測機構,從上述原圖像數據中檢測出邊緣;
演算機構,計算在由上述檢測機構所檢測出的邊緣位置的利普茲指數;
選擇機構,基于上述演算裝置所計算的利普茲指數,選擇插值函數;和
內插機構,基于上述選擇機構所選擇的插值函數,進行上述邊緣附近的像素內插處理。
4、如權利要求1至3任意一項所述的圖像放大裝置,其特征在于:
上述插值函數為平滑化函數。
5、如權利要求1至4任意一項所述的圖像放大裝置,其特征在于:
上述選擇機構基于上述邊緣的法線角度最接近0度、45度、90度、135度哪一個來選擇插值函數。
6、如權利要求5所述圖像放大裝置,其特征在于,
上述選擇機構,
在上述內插像素由原像素沿左右方向夾持,且這些原像素任意一個存在邊緣的情況下,在該邊緣的法線角度最接近0度時,基于該原像素中的連續微分可能次數或利普茲指數來選擇插值函數;
在上述內插像素由原像素沿上下方向夾持,且這些原像素任意一個存在邊緣的情況下,在該邊緣的法線角度最接近90度時,基于該原像素的連續微分可能次數或利普茲指數來選擇插值函數;
在上述內插像素由原像素沿傾斜45度方向夾持,且這些原像素任意一個存在邊緣的情況下,在該邊緣的法線角度最接近135度時,基于該原像素的連續微分可能次數或利普茲指數來選擇插值函數;
在上述內插像素由原像素沿傾斜135方向夾持,且這些原像素任意一個存在邊緣的情況下,在該邊緣的法線角度最接近45度時,基于該原像素的連續微分可能次數或利普茲指數來選擇插值函數。
7、如權利要求1至6任意一項所述的圖像放大裝置,其特征在于:
上述內插機構根據上述內插像素由原像素夾持的方向,選擇在內插處理時所參照的像素。
8、如權利要求7所述的圖像放大裝置,其特征在于,
上述內插機構,
在上述內插像素由原像素沿左右方向夾持的情況下,參照該左右的原像素進行內插處理;
在上述內插像素由原像素沿上下方向夾持的情況下,參照該上下的原像素進行內插處理;
在上述內插像素由原像素沿傾斜方向夾持的情況下,參照該傾斜方向的原像素進行內插處理。
9、一種程序,
使計算機發揮:
從數字圖像數據中檢測出邊緣的檢測功能;
對上述檢測功能中所檢測出的邊緣位置的連續微分可能次數進行推定的推定功能;
基于上述推定功能中所推定的連續微分可能次數,選擇插值函數的選擇功能;和
基于上述選擇功能所選擇的插值函數,進行上述邊緣附近的像素內插處理的內插功能。
10、如權利要求9所述的程序,其特征在于:
上述推定功能中,基于上述邊緣位置的利普茲指數來推定連續微分可能次數。
11、一種程序,
使計算機發揮:
從數字圖像數據中檢測出邊緣的檢測功能;
計算在上述邊緣檢測功能中所檢測的邊緣位置的利普茲指數的演算功能;
基于在上述演算功能中所計算的利普茲指數來選擇插值函數的選擇功能;和
基于上述選擇功能中所選擇的插值函數,進行上述邊緣附近的像素內插處理的內插功能。
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