[發(fā)明專利]電子電路中的誤差校正無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200580013104.5 | 申請(qǐng)日: | 2005-04-26 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN1947098A | 公開(kāi)(公告)日: | 2007-04-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 安德烈·K.·紐蘭;保羅·威拉格;理查德·P.·克萊霍斯特 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 皇家飛利浦電子股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06F11/10 | 分類號(hào): | G06F11/10;G11C7/22 |
| 代理公司: | 永新專利商標(biāo)代理有限公司 | 代理人: | 王英 |
| 地址: | 荷蘭艾*** | 國(guó)省代碼: | 荷蘭;NL |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 電子電路 中的 誤差 校正 | ||
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- 同類專利
- 專利分類
G06F 電數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理
G06F11-00 錯(cuò)誤檢測(cè);錯(cuò)誤校正;監(jiān)控
G06F11-07 .響應(yīng)錯(cuò)誤的產(chǎn)生,例如,容錯(cuò)
G06F11-22 .在準(zhǔn)備運(yùn)算或者在空閑時(shí)間期間內(nèi),通過(guò)測(cè)試作故障硬件的檢測(cè)或定位
G06F11-28 .借助于檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)程序或通過(guò)處理作錯(cuò)誤檢測(cè)、錯(cuò)誤校正或監(jiān)控
G06F11-30 .監(jiān)控
G06F11-36 .通過(guò)軟件的測(cè)試或調(diào)試防止錯(cuò)誤
- 誤差校準(zhǔn)
- 利用端面誤差調(diào)整徑向誤差裝置
- 利用端面誤差調(diào)整徑向誤差裝置
- 誤差測(cè)定裝置及誤差測(cè)定方法
- 消除測(cè)量誤差和穩(wěn)態(tài)誤差的誤差檢測(cè)-K值控制法
- 分度誤差估計(jì)裝置、分度誤差校準(zhǔn)裝置和分度誤差估計(jì)方法
- 誤差擴(kuò)散
- 處理用于使用誤差擴(kuò)散技術(shù)打印的數(shù)據(jù)的方法和處理裝置
- DAC誤差補(bǔ)償方法及誤差補(bǔ)償系統(tǒng)
- 主軸系統(tǒng)熱誤差建模方法、誤差預(yù)測(cè)系統(tǒng)、誤差控制系統(tǒng)、誤差控制方法及云霧計(jì)算系統(tǒng)





