[發(fā)明專利]晶片級光電測試裝置及方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200580011617.2 | 申請日： | 2005-03-08 |
| 公開（公告）號： | CN1965240A | 公開（公告）日： | 2007-05-16 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 普拉卡什·約托斯卡;馬格利特·吉龍;羅伯特·凱斯·蒙特哥莫里;威普庫馬·帕特爾;卡爾潘都·夏斯特里;索哈姆·帕塔克;大衛(wèi)·佩德;凱瑟琳·A·亞努舍弗斯奇 | 申請（專利權(quán)）人： | 斯歐普迪克爾股份有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/26 | 分類號： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京安信方達知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人： | 霍育棟;鄭霞 |
| 地址： | 美國賓夕*** | 國省代碼： | 美國;US |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 晶片 光電 測試 裝置 方法 | ||
【說明書】：
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