[發明專利]用于測試集成電路對閉鎖的敏感度的方法和設備有效
| 申請號： | 200580003293.8 | 申請日： | 2005-01-27 |
| 公開（公告）號： | CN1914514A | 公開（公告）日： | 2007-02-14 |
| 發明（設計）人： | A·斯卡帕;P·H·卡普龐;P·C·德瓊;T·斯密德斯 | 申請（專利權）人： | 皇家飛利浦電子股份有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/316 | 分類號： | G01R31/316;H01L23/544 |
| 代理公司： | 中國專利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 王岳;王勇 |
| 地址： | 荷蘭艾*** | 國省代碼： | 荷蘭;NL |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 用于 測試 集成電路 閉鎖 敏感度 方法 設備 | ||
【說明書】：
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