[實用新型]掃描型上轉(zhuǎn)磷光顆粒分布狀態(tài)檢測儀無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200520045658.0 | 申請日： | 2005-10-14 |
| 公開（公告）號： | CN2869854Y | 公開（公告）日： | 2007-02-14 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 趙永凱;周蕾;王靜;黃立華;閆中強;胡孔新;黃惠杰;楊瑞馥;李偉;劉蕾;王向朝;王大寧;王寶麟 | 申請（專利權(quán)）人： | 中國科學(xué)院上海光學(xué)精密機械研究所;中國人民解放軍軍事醫(yī)學(xué)科學(xué)院微生物流行病研究所;中國檢驗檢疫科學(xué)研究院 |
| 主分類號： | G01N21/64 | 分類號： | G01N21/64;G01N33/558 |
| 代理公司： | 上海新天專利代理有限公司 | 代理人： | 張澤純 |
| 地址： | 201800上*** | 國省代碼： | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 掃描 型上轉(zhuǎn) 磷光 顆粒 分布 狀態(tài) 檢測 | ||
【權(quán)利要求書】：
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G01 測量；測試
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段，即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā)，因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng)，測試反應(yīng)的進行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段，即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā)，因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng)，測試反應(yīng)的進行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
