[發(fā)明專利]用于利用寄存器組來測試半導(dǎo)體芯片的方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200510128579.0 | 申請日： | 2005-11-29 |
| 公開（公告）號： | CN1805054A | 公開（公告）日： | 2006-07-19 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | U·哈特曼;J·卡爾朔伊爾;P·施特拉克 | 申請（專利權(quán)）人： | 因芬尼昂技術(shù)股份公司 |
| 主分類號： | G11C29/12 | 分類號： | G11C29/12 |
| 代理公司： | 中國專利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 程天正;張志醒 |
| 地址： | 德國*** | 國省代碼： | 德國;DE |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 用于 利用 寄存器 測試 半導(dǎo)體 芯片 方法 | ||
【說明書】：
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