[發(fā)明專利]異步通訊芯片時間參數(shù)的測試方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200510111293.1 | 申請日： | 2005-12-08 |
| 公開（公告）號： | CN1980101A | 公開（公告）日： | 2007-06-13 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 武建宏;謝晉春 | 申請（專利權(quán)）人： | 上海華虹NEC電子有限公司 |
| 主分類號： | H04B17/00 | 分類號： | H04B17/00 |
| 代理公司： | 上海浦一知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人： | 丁紀鐵 |
| 地址： | 201206上*** | 國省代碼： | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 異步 通訊 芯片 時間 參數(shù) 測試 方法 | ||
【說明書】：
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