[發明專利]用于測量樣本光吸收特性的方法和裝置無效
| 申請號： | 200510097752.5 | 申請日： | 2005-08-24 |
| 公開（公告）號： | CN1740776A | 公開（公告）日： | 2006-03-01 |
| 發明（設計）人： | 高橋浩三 | 申請（專利權）人： | 電子系統股份有限公司 |
| 主分類號： | G01N21/31 | 分類號： | G01N21/31 |
| 代理公司： | 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 | 代理人： | 蔣世迅 |
| 地址： | 日本*** | 國省代碼： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 用于 測量 樣本 光吸收 特性 方法 裝置 | ||
【說明書】：
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