[發明專利]一種測試力/電耦合場下金屬薄膜疲勞壽命的方法有效
| 申請號： | 200510096133.4 | 申請日： | 2005-10-10 |
| 公開（公告）號： | CN1766643A | 公開（公告）日： | 2006-05-03 |
| 發明（設計）人： | 孫軍;劉剛;牛榮梅;宋忠孝;徐可為 | 申請（專利權）人： | 西安交通大學 |
| 主分類號： | G01N35/00 | 分類號： | G01N35/00;G01N3/08;G01N27/00 |
| 代理公司： | 西安通大專利代理有限責任公司 | 代理人： | 陳翠蘭 |
| 地址： | 710049*** | 國省代碼： | 陜西;61 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 測試 耦合 金屬 薄膜 疲勞 壽命 方法 | ||
【說明書】：
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