[發(fā)明專利]半導(dǎo)體材料的高溫霍爾測量方法及裝置無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200510094827.4 | 申請日： | 2005-10-14 |
| 公開（公告）號： | CN1811401A | 公開（公告）日： | 2006-08-02 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 陳敦軍;陶亞奇;吳衛(wèi)國;張榮;鄭有炓 | 申請（專利權(quán)）人： | 南京大學(xué) |
| 主分類號： | G01N27/72 | 分類號： | G01N27/72;G01R33/12 |
| 代理公司： | 南京天翼專利代理有限責(zé)任公司 | 代理人： | 湯志武 |
| 地址： | 210093*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 半導(dǎo)體材料 高溫 霍爾 測量方法 裝置 | ||
【權(quán)利要求書】：
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