[發明專利]用于制備微陣列的噴墨點樣儀及使用該儀器的點樣方法無效
| 申請號： | 200510091777.4 | 申請日： | 2005-08-17 |
| 公開（公告）號： | CN1916627A | 公開（公告）日： | 2007-02-21 |
| 發明（設計）人： | 任志爀;孫東岐;金珉秀;鞠健 | 申請（專利權）人： | 三星電子株式會社 |
| 主分類號： | G01N33/50 | 分類號： | G01N33/50;C12Q1/00 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律師事務所 | 代理人： | 張平元;趙仁臨 |
| 地址： | 韓國*** | 國省代碼： | 韓國;KR |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 用于 制備 陣列 噴墨 點樣儀 使用 儀器 方法 | ||
【權利要求書】：
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