[發(fā)明專利]用于質譜儀離子源的多入口取樣設備無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200510090842.1 | 申請日： | 2005-08-16 |
| 公開（公告）號： | CN1749749A | 公開（公告）日： | 2006-03-22 |
| 發(fā)明（設計）人： | 邁克爾·J·福蘭納甘;哈維·D·魯克斯·伊爾 | 申請（專利權）人： | 安捷倫科技有限公司 |
| 主分類號： | G01N30/16 | 分類號： | G01N30/16;G01N1/00 |
| 代理公司： | 北京東方億思知識產權代理有限責任公司 | 代理人： | 肖善強 |
| 地址： | 美國加利*** | 國省代碼： | 美國;US |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 用于 質譜儀 離子源 入口 取樣 設備 | ||
【說明書】：
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