[發(fā)明專利]檢測電容變化的方法和集成電路有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200510090301.9 | 申請日： | 2005-08-12 |
| 公開（公告）號： | CN1743855A | 公開（公告）日： | 2006-03-08 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 李相喆 | 申請（專利權(quán)）人： | 愛迪半導(dǎo)體株式會(huì)社 |
| 主分類號： | G01R27/26 | 分類號： | G01R27/26 |
| 代理公司： | 北京潤平知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人： | 周建秋;王鳳桐 |
| 地址： | 韓國*** | 國省代碼： | 韓國;KR |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 檢測 電容 變化 方法 集成電路 | ||
【說明書】：
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