[發(fā)明專利]半導(dǎo)體電路裝置及測試半導(dǎo)體裝置系統(tǒng)無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200510089570.3 | 申請日： | 2005-07-26 |
| 公開（公告）號： | CN1747070A | 公開（公告）日： | 2006-03-15 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | R·阿爾諾德;G·弗蘭科維斯基;W·斯皮克 | 申請（專利權(quán)）人： | 因芬尼昂技術(shù)股份公司 |
| 主分類號： | G11C29/00 | 分類號： | G11C29/00;G01R31/3181 |
| 代理公司： | 中國專利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 梁永 |
| 地址： | 德國*** | 國省代碼： | 德國;DE |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 半導(dǎo)體 電路 裝置 測試 系統(tǒng) | ||
【權(quán)利要求書】：
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