[發(fā)明專利]一種目標(biāo)基站獲取鑒權(quán)密鑰的方法及系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200510085548.1 | 申請(qǐng)日： | 2005-07-25 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN1905734A | 公開（公告）日： | 2007-01-31 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 肖正飛;吳建軍 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 華為技術(shù)有限公司 |
| 主分類號(hào)： | H04Q7/38 | 分類號(hào)： | H04Q7/38;H04L9/08 |
| 代理公司： | 北京德琦知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人： | 王琦;程殿軍 |
| 地址： | 518129廣東省*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 目標(biāo) 基站 獲取 密鑰 方法 系統(tǒng) | ||
【權(quán)利要求書】：
下載完整專利技術(shù)內(nèi)容需要扣除積分，VIP會(huì)員可以免費(fèi)下載。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息，商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于華為技術(shù)有限公司，未經(jīng)華為技術(shù)有限公司許可，擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作，請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/200510085548.1/1.html，轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 目標(biāo)檢測(cè)裝置、學(xué)習(xí)裝置、目標(biāo)檢測(cè)系統(tǒng)及目標(biāo)檢測(cè)方法
- 目標(biāo)監(jiān)測(cè)方法、目標(biāo)監(jiān)測(cè)裝置以及目標(biāo)監(jiān)測(cè)程序
- 目標(biāo)監(jiān)控系統(tǒng)及目標(biāo)監(jiān)控方法
- 目標(biāo)跟蹤方法和目標(biāo)跟蹤設(shè)備
- 目標(biāo)跟蹤方法和目標(biāo)跟蹤裝置
- 目標(biāo)檢測(cè)方法和目標(biāo)檢測(cè)裝置
- 目標(biāo)跟蹤方法、目標(biāo)跟蹤裝置、目標(biāo)跟蹤設(shè)備
- 目標(biāo)處理方法、目標(biāo)處理裝置、目標(biāo)處理設(shè)備及介質(zhì)
- 目標(biāo)處理方法、目標(biāo)處理裝置、目標(biāo)處理設(shè)備及介質(zhì)
- 目標(biāo)跟蹤系統(tǒng)及目標(biāo)跟蹤方法
