[發明專利]光學部件的評價裝置和評價方法無效
| 申請號： | 200510081472.5 | 申請日： | 2005-06-29 |
| 公開（公告）號： | CN1715999A | 公開（公告）日： | 2006-01-04 |
| 發明（設計）人： | 橋本安史;加藤智香子;西村和也;高橋利夫 | 申請（專利權）人： | 奧林巴斯株式會社 |
| 主分類號： | G02B27/62 | 分類號： | G02B27/62 |
| 代理公司： | 北京三友知識產權代理有限公司 | 代理人： | 黃綸偉 |
| 地址： | 日本*** | 國省代碼： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 光學 部件 評價 裝置 方法 | ||
【說明書】：
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