[發(fā)明專利]存儲器測試電路和存儲器測試方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200510079461.3 | 申請日： | 2005-06-23 |
| 公開（公告）號： | CN1722307A | 公開（公告）日： | 2006-01-18 |
| 發(fā)明（設計）人： | 藪田匡史 | 申請（專利權）人： | 株式會社東芝 |
| 主分類號： | G11C29/00 | 分類號： | G11C29/00;G01R31/28 |
| 代理公司： | 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 | 代理人： | 吳麗麗 |
| 地址： | 日本*** | 國省代碼： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 存儲器 測試 電路 方法 | ||
【權利要求書】：
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