[發明專利]表面仿形測定裝置、表面仿形測定方法及表面仿形測定程序有效
| 申請號： | 200510073330.4 | 申請日： | 2005-05-31 |
| 公開（公告）號： | CN1704718A | 公開（公告）日： | 2005-12-07 |
| 發明（設計）人： | 野田孝 | 申請（專利權）人： | 株式會社三豐 |
| 主分類號： | G01B21/00 | 分類號： | G01B21/00;G01B21/20 |
| 代理公司： | 北京市金杜律師事務所 | 代理人： | 季向岡 |
| 地址： | 日本神*** | 國省代碼： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 表面 測定 裝置 方法 程序 | ||
【說明書】：
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