[發明專利]芯片式電容耦合非接觸型電導檢測器無效
| 申請號： | 200510068344.7 | 申請日： | 2005-05-08 |
| 公開（公告）號： | CN1804607A | 公開（公告）日： | 2006-07-19 |
| 發明（設計）人： | 羅國安;陳令新;馬賽;姚波;王義明 | 申請（專利權）人： | 清華大學 |
| 主分類號： | G01N27/27 | 分類號： | G01N27/27;G01N27/416;G01N27/30 |
| 代理公司： | 北京紀凱知識產權代理有限公司 | 代理人： | 徐寧;關暢 |
| 地址： | 100084*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 芯片 電容 耦合 接觸 電導 檢測器 | ||
【權利要求書】：
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