[發(fā)明專利]測試轉(zhuǎn)接卡及其測試設(shè)備無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200510065765.4 | 申請日： | 2005-04-15 |
| 公開（公告）號： | CN1847858A | 公開（公告）日： | 2006-10-18 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 王志鴻;鄭君風;李祥銘 | 申請（專利權(quán)）人： | 華碩電腦股份有限公司 |
| 主分類號： | G01R1/02 | 分類號： | G01R1/02;G01R31/02;G01R31/28 |
| 代理公司： | 隆天國際知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人： | 王玉雙;潘培坤 |
| 地址： | 臺灣省臺北市*** | 國省代碼： | 中國臺灣;71 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 測試 轉(zhuǎn)接 及其 設(shè)備 | ||
【權(quán)利要求書】：
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