[發明專利]帶有存儲器的半導體器件和存儲器測試的方法無效
| 申請號： | 200510062803.0 | 申請日： | 2005-02-07 |
| 公開（公告）號： | CN1667755A | 公開（公告）日： | 2005-09-14 |
| 發明（設計）人： | 櫛田桂一;平林修 | 申請（專利權）人： | 株式會社東芝 |
| 主分類號： | G11C29/00 | 分類號： | G11C29/00;G11C7/00 |
| 代理公司： | 上海專利商標事務所有限公司 | 代理人： | 臧霽晨 |
| 地址： | 日本*** | 國省代碼： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 帶有 存儲器 半導體器件 測試 方法 | ||
【權利要求書】：
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