[發(fā)明專利]測(cè)試裝置、測(cè)試方法和計(jì)算機(jī)程序有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200510059429.9 | 申請(qǐng)日： | 2005-03-17 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN1671253A | 公開（公告）日： | 2005-09-21 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 淺田宏平 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 索尼株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào)： | H04S3/00 | 分類號(hào)： | H04S3/00;H04R3/04;H04R3/12;H04S7/00 |
| 代理公司： | 上海專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 | 代理人： | 錢慰民 |
| 地址： | 日本*** | 國(guó)省代碼： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 測(cè)試 裝置 方法 計(jì)算機(jī) 程序 | ||
【說(shuō)明書】：
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