[發(fā)明專利]自發(fā)光顯示模塊及其缺陷狀態(tài)檢驗方法、含該模塊的設(shè)備無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200510059207.7 | 申請日： | 2005-03-24 |
| 公開（公告）號： | CN1674075A | 公開（公告）日： | 2005-09-28 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 佐藤宏幸;后藤隆志 | 申請（專利權(quán)）人： | 東北先鋒電子股份有限公司 |
| 主分類號： | G09G3/30 | 分類號： | G09G3/30;G01R31/00;H05B33/14 |
| 代理公司： | 中國專利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 浦柏明;劉宗杰 |
| 地址： | 日本山形*** | 國省代碼： | 日本;JP |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 發(fā)光 顯示 模塊 及其 缺陷 狀態(tài) 檢驗 方法 設(shè)備 | ||
【權(quán)利要求書】：
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