[發(fā)明專利]用于探測具有突起的接觸元件的晶片的探測卡無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200510055106.2 | 申請日： | 1999-12-02 |
| 公開（公告）號： | CN1702470A | 公開（公告）日： | 2005-11-30 |
| 發(fā)明（設計）人： | B·N·埃爾德里奇;G·W·格魯伯;G·L·馬蒂厄 | 申請（專利權）人： | 佛姆法克特股份有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/316 | 分類號： | G01R31/316;G01R31/28;G01R31/02;G01R1/073 |
| 代理公司： | 上海專利商標事務所有限公司 | 代理人： | 馬洪 |
| 地址： | 美國加利*** | 國省代碼： | 美國;US |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 用于 探測 具有 突起 接觸 元件 晶片 | ||
【說明書】：
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