[發明專利]測試鍵結構有效
| 申請號： | 200510054311.7 | 申請日： | 2005-03-08 |
| 公開（公告）號： | CN1832161A | 公開（公告）日： | 2006-09-13 |
| 發明（設計）人： | 陳銘聰;龔佑儀;戎樂天 | 申請（專利權）人： | 聯華電子股份有限公司 |
| 主分類號： | H01L23/544 | 分類號： | H01L23/544;H01L21/66 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律師事務所 | 代理人： | 陶鳳波;侯宇 |
| 地址： | 臺灣省新竹*** | 國省代碼： | 中國臺灣;71 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 測試 結構 | ||
【權利要求書】：
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