[發明專利]一種實現對I2C器件特性參數進行調試的方法及裝置無效
| 申請號： | 200510021712.2 | 申請日： | 2005-09-16 |
| 公開（公告）號： | CN1770883A | 公開（公告）日： | 2006-05-10 |
| 發明（設計）人： | 黃宏生;李鴻安;張志華;焦晨陽;金永進 | 申請（專利權）人： | 深圳創維－RGB電子有限公司 |
| 主分類號： | H04N17/04 | 分類號： | H04N17/04;G06F11/00 |
| 代理公司： | 深圳創友專利商標代理有限公司 | 代理人： | 彭家恩 |
| 地址： | 518057廣東省深圳市*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 實現 sup 器件 特性 參數 進行 調試 方法 裝置 | ||
【說明書】：
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