[發(fā)明專利]流式成像顆粒測量裝置及其測量方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200510016233.1 | 申請日： | 2005-02-25 |
| 公開（公告）號： | CN1651898A | 公開（公告）日： | 2005-08-10 |
| 發(fā)明（設計）人： | 朱險峰 | 申請（專利權）人： | 天津大學 |
| 主分類號： | G01N15/06 | 分類號： | G01N15/06;G01N15/00;G01N21/51 |
| 代理公司： | 天津市北洋有限責任專利代理事務所 | 代理人： | 江鎮(zhèn)華 |
| 地址： | 300072天津*** | 國省代碼： | 天津;12 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 成像 顆粒 測量 裝置 及其 測量方法 | ||
【說明書】：
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