[發明專利]一種顆粒粒徑分布的測量方法無效
| 申請號： | 200510011874.8 | 申請日： | 2005-06-06 |
| 公開（公告）號： | CN1696654A | 公開（公告）日： | 2005-11-16 |
| 發明（設計）人： | 左劍惡;李建平 | 申請（專利權）人： | 清華大學 |
| 主分類號： | G01N15/02 | 分類號： | G01N15/02;G01N21/84 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 100084北京*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 顆粒 粒徑 分布 測量方法 | ||
【說明書】：
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