[發(fā)明專利]基于黑體輻射的雙波長(zhǎng)光電測(cè)溫儀無效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200510011751.4 | 申請(qǐng)日： | 2005-05-20 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN1687722A | 公開（公告）日： | 2005-10-26 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 孫利群;章恩耀;孫超;邱虹云 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 清華大學(xué) |
| 主分類號(hào)： | G01J5/00 | 分類號(hào)： | G01J5/00;G01J5/28 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 100084北京*** | 國(guó)省代碼： | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 基于 黑體 輻射 波長(zhǎng) 光電 測(cè)溫 | ||
【權(quán)利要求書】：
下載完整專利技術(shù)內(nèi)容需要扣除積分，VIP會(huì)員可以免費(fèi)下載。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息，商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于清華大學(xué)，未經(jīng)清華大學(xué)許可，擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作，請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/200510011751.4/1.html，轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
