[發(fā)明專利]近紅外極化光子對(duì)光譜儀測(cè)量方法及裝置無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200510000043.0 | 申請(qǐng)日： | 2005-01-05 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN1799505A | 公開（公告）日： | 2006-07-12 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 周晟;詹益欣;吳政雄;俞力平 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 周晟 |
| 主分類號(hào)： | A61B6/00 | 分類號(hào)： | A61B6/00;G01N21/00;G01J3/00 |
| 代理公司： | 北京林達(dá)劉知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 | 代理人： | 劉新宇 |
| 地址： | 臺(tái)灣省臺(tái)北市*** | 國(guó)省代碼： | 中國(guó)臺(tái)灣;71 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說(shuō)明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 紅外 極化 光子 光譜儀 測(cè)量方法 裝置 | ||
【說(shuō)明書】：
下載完整專利技術(shù)內(nèi)容需要扣除積分，VIP會(huì)員可以免費(fèi)下載。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息，商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于周晟，未經(jīng)周晟許可，擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作，請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/200510000043.0/2.html，轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 單光子探測(cè)器用于分辨光子數(shù)的測(cè)量方法
- 利用光子調(diào)控增強(qiáng)光子計(jì)數(shù)激光雷達(dá)探測(cè)靈敏度的方法和系統(tǒng)
- 光子電路設(shè)計(jì)系統(tǒng)和計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)
- 測(cè)量熒光量子產(chǎn)率的方法及裝置
- 用于光子掃描裝置的脈寬調(diào)制
- 用于使用糾纏光子在量子密鑰分發(fā)系統(tǒng)中空脈沖減輕的方法和系統(tǒng)
- 單光子激光雷達(dá)水下光子位移校正、測(cè)深方法及裝置
- 單光子激光雷達(dá)水下光子位移校正、測(cè)深方法及裝置
- 單光子激光雷達(dá)水下光子位移校正、測(cè)深方法及裝置
- 光子半導(dǎo)體裝置及其制造方法
