[發明專利]檢測集成電路的方法和裝置無效
| 申請號： | 200480009920.4 | 申請日： | 2004-02-16 |
| 公開（公告）號： | CN1774642A | 公開（公告）日： | 2006-05-17 |
| 發明（設計）人： | 安肯·拉馬尼克;馬克·艾爾斯頓;陳良力;羅伯·薩烏爾 | 申請（專利權）人： | 愛德萬測試株式會社 |
| 主分類號： | G01R31/319 | 分類號： | G01R31/319 |
| 代理公司： | 北京中原華和知識產權代理有限責任公司 | 代理人： | 壽寧 |
| 地址： | 日本*** | 國省代碼： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 檢測 集成電路 方法 裝置 | ||
【權利要求書】：
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