[實(shí)用新型]光滑表面疵病的自動(dòng)化檢測(cè)系統(tǒng)無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200420037022.7 | 申請(qǐng)日： | 2004-06-22 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN2729708Y | 公開（公告）日： | 2005-09-28 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 楊甬英;卓永模 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 浙江大學(xué) |
| 主分類號(hào)： | G01N21/956 | 分類號(hào)： | G01N21/956;G01N21/88 |
| 代理公司： | 杭州求是專利事務(wù)所有限公司 | 代理人： | 張法高 |
| 地址： | 310027浙*** | 國(guó)省代碼： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 光滑 表面 自動(dòng)化 檢測(cè) 系統(tǒng) | ||
【說(shuō)明書】：
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- 同類專利
- 專利分類
G01 測(cè)量；測(cè)試
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段，即利用紅外光、可見(jiàn)光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā)，因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng)，測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段，即利用紅外光、可見(jiàn)光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā)，因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng)，測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
- 自動(dòng)化設(shè)備和自動(dòng)化系統(tǒng)
- 一種基于流程驅(qū)動(dòng)的測(cè)試自動(dòng)化方法以及測(cè)試自動(dòng)化系統(tǒng)
- 用于工業(yè)自動(dòng)化設(shè)備認(rèn)識(shí)的系統(tǒng)和方法
- 實(shí)現(xiàn)過(guò)程自動(dòng)化服務(wù)的標(biāo)準(zhǔn)化設(shè)計(jì)方法學(xué)的自動(dòng)化系統(tǒng)
- 一種日產(chǎn)50萬(wàn)安時(shí)勻漿自動(dòng)化系統(tǒng)
- 一種自動(dòng)化肥料生產(chǎn)系統(tǒng)
- 一種電氣自動(dòng)化設(shè)備自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)及檢測(cè)方法
- 用于自動(dòng)化應(yīng)用的抽象層
- 一種基于虛擬化架構(gòu)的自動(dòng)化系統(tǒng)功能驗(yàn)證方法
- 自動(dòng)化測(cè)試框架自動(dòng)測(cè)試的實(shí)現(xiàn)技術(shù)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)
