[發(fā)明專利]酸槽與反應槽穩(wěn)定度的偵測方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200410102685.7 | 申請日: | 2004-12-27 |
| 公開(公告)號: | CN1796994A | 公開(公告)日: | 2006-07-05 |
| 發(fā)明(設計)人: | 張原勛;黃良田;呂志原;許哲愷;林依亮 | 申請(專利權)人: | 旺宏電子股份有限公司 |
| 主分類號: | G01N33/00 | 分類號: | G01N33/00;G01N21/55;G01N21/00;G01B11/30 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產(chǎn)權代理有限公司 | 代理人: | 王學強 |
| 地址: | 臺灣省新竹*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 反應 穩(wěn)定 偵測 方法 | ||
【權利要求書】:
下載完整專利技術內(nèi)容需要扣除積分,VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于旺宏電子股份有限公司,未經(jīng)旺宏電子股份有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權和技術合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/200410102685.7/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:棉花顯性無腺體基因的分子標記
- 下一篇:帶有導流帽的閥瓣





