[發明專利]允許進行與尺寸相關的規則檢查的集成電路設計建模無效
| 申請號： | 200410094744.0 | 申請日： | 2004-11-17 |
| 公開（公告）號： | CN1684073A | 公開（公告）日： | 2005-10-19 |
| 發明（設計）人： | 李·M·帕斯特爾;林德特·M·胡伊斯曼 | 申請（專利權）人： | 國際商業機器公司 |
| 主分類號： | G06F17/50 | 分類號： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 | 代理人： | 李春暉 |
| 地址： | 美國*** | 國省代碼： | 美國;US |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 允許 進行 尺寸 相關 規則 檢查 集成電路設計 建模 | ||
【說明書】：
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