[發(fā)明專利]單根一維納米材料的測試電極及其制作方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200410091205.1 | 申請日： | 2004-11-17 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN1779466A | 公開（公告）日： | 2006-05-31 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 楊海方;劉立偉;金愛子;顧長志;呂力 | 申請（專利權(quán)）人： | 中國科學(xué)院物理研究所 |
| 主分類號(hào)： | G01R1/06 | 分類號(hào)： | G01R1/06;H05K3/06 |
| 代理公司： | 北京泛華偉業(yè)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人： | 高存秀 |
| 地址： | 100080北*** | 國省代碼： | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 單根一維 納米 材料 測試 電極 及其 制作方法 | ||
【說明書】：
下載完整專利技術(shù)內(nèi)容需要扣除積分，VIP會(huì)員可以免費(fèi)下載。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息，商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國科學(xué)院物理研究所，未經(jīng)中國科學(xué)院物理研究所許可，擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作，請聯(lián)系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/200410091205.1/2.html，轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01 測量；測試
G01R 測量電變量；測量磁變量
G01R1-00 包含在G01R 5/00至G01R 13/00和G01R 31/00組中的各類儀器或裝置的零部件
G01R1-02 .一般結(jié)構(gòu)零部件
G01R1-20 .電測量儀器中所用的基本電氣元件的改進(jìn)；這些元件和這類儀器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-28 .在測量儀器中提供基準(zhǔn)值的設(shè)備，例如提供標(biāo)準(zhǔn)電壓、標(biāo)準(zhǔn)波形
G01R1-30 .電測量儀器與基本電子線路的結(jié)構(gòu)組合，例如與放大器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-36 .電測量儀器的過負(fù)載保護(hù)裝置或電路
G01R 測量電變量；測量磁變量
G01R1-00 包含在G01R 5/00至G01R 13/00和G01R 31/00組中的各類儀器或裝置的零部件
G01R1-02 .一般結(jié)構(gòu)零部件
G01R1-20 .電測量儀器中所用的基本電氣元件的改進(jìn)；這些元件和這類儀器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-28 .在測量儀器中提供基準(zhǔn)值的設(shè)備，例如提供標(biāo)準(zhǔn)電壓、標(biāo)準(zhǔn)波形
G01R1-30 .電測量儀器與基本電子線路的結(jié)構(gòu)組合，例如與放大器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-36 .電測量儀器的過負(fù)載保護(hù)裝置或電路
- 單根一維納米材料的測試電極及其制作方法
- 單根一維納米材料的測試電極及其制作方法
- 一種作物單根可變形建模方法
- 基于單根一維納米結(jié)構(gòu)材料的壓力響應(yīng)存儲(chǔ)器件及制備方法
- 一種基于單根一維同質(zhì)結(jié)微/納米線的熱發(fā)電機(jī)及其發(fā)電方法
- 一種基于氧化鋅/碳雜化納米結(jié)構(gòu)的多比特存儲(chǔ)器及其制備方法
- 基于一維納米半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)表面態(tài)調(diào)控的自供能光電探測器及制備方法
- 用于近場二維聚焦的高效率基片集成波導(dǎo)漏波縫隙陣天線
- 一種單根一維納米結(jié)構(gòu)場發(fā)射冷陰極的制作方法
- 絨線(三維鏈紋)
