[發(fā)明專利]冷軋硅鋼片磁性能測(cè)試方法無效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200410084451.4 | 申請(qǐng)日： | 2004-11-22 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN1779480A | 公開（公告）日： | 2006-05-31 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 黃力明;李秀英;忻尚君 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 上海電器科學(xué)研究所（集團(tuán)）有限公司 |
| 主分類號(hào)： | G01R33/12 | 分類號(hào)： | G01R33/12;G01R33/16;G01R31/34 |
| 代理公司： | 上海智力專利商標(biāo)事務(wù)所 | 代理人： | 瞿承達(dá) |
| 地址： | 200063*** | 國(guó)省代碼： | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 冷軋 硅鋼片 磁性 測(cè)試 方法 | ||
【說明書】：
下載完整專利技術(shù)內(nèi)容需要扣除積分，VIP會(huì)員可以免費(fèi)下載。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息，商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于上海電器科學(xué)研究所（集團(tuán)）有限公司，未經(jīng)上海電器科學(xué)研究所（集團(tuán)）有限公司許可，擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作，請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/200410084451.4/2.html，轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 軟件測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
- 自動(dòng)化測(cè)試方法和裝置
- 一種應(yīng)用于視頻點(diǎn)播系統(tǒng)的測(cè)試裝置及測(cè)試方法
- Android設(shè)備的測(cè)試方法及系統(tǒng)
- 一種工廠測(cè)試方法、系統(tǒng)、測(cè)試終端及被測(cè)試終端
- 一種軟件測(cè)試的方法、裝置及電子設(shè)備
- 測(cè)試方法、測(cè)試裝置、測(cè)試設(shè)備及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
- 測(cè)試裝置及測(cè)試系統(tǒng)
- 測(cè)試方法及測(cè)試系統(tǒng)
- 一種數(shù)控切削指令運(yùn)行軟件測(cè)試系統(tǒng)及方法
