[發明專利]鉤鍵開關可靠性測試裝置以及方法無效
| 申請號： | 200410084129.1 | 申請日： | 2004-10-25 |
| 公開（公告）號： | CN1766666A | 公開（公告）日： | 2006-05-03 |
| 發明（設計）人： | 張一順;李紹祖;翁世雄 | 申請（專利權）人： | 英保達股份有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/327 | 分類號： | G01R31/327 |
| 代理公司： | 北京紀凱知識產權代理有限公司 | 代理人： | 程偉 |
| 地址： | 臺灣省*** | 國省代碼： | 中國臺灣;71 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 開關 可靠性 測試 裝置 以及 方法 | ||
【權利要求書】：
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