[發(fā)明專利]檢測(cè)薄膜磁頭的方法和制造薄膜磁頭的方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200410079441.1 | 申請(qǐng)日： | 2004-08-18 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN1584623A | 公開（公告）日： | 2005-02-23 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 松隈裕樹;小橋宗順 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | TDK株式會(huì)社;新科實(shí)業(yè)有限公司 |
| 主分類號(hào)： | G01R33/06 | 分類號(hào)： | G01R33/06 |
| 代理公司： | 北京紀(jì)凱知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人： | 龍淳 |
| 地址： | 日本*** | 國(guó)省代碼： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 檢測(cè) 薄膜 磁頭 方法 制造 | ||
【權(quán)利要求書】：
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