[發(fā)明專利]使用抽樣衍射信號選擇一個假想剖面用于光學計量有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200410079171.4 | 申請日： | 2004-09-15 |
| 公開（公告）號： | CN1619288A | 公開（公告）日： | 2005-05-25 |
| 發(fā)明（設計）人： | 翁維;包軍巍;斯里尼瓦斯·多迪;伊曼紐爾·德勒熱;溫金;桑賈伊·耶杜爾;道瑞斯·欽;尼克黑爾·亞卡塔達爾;勞倫斯·雷恩 | 申請（專利權）人： | 音質技術公司 |
| 主分類號： | G01N21/17 | 分類號： | G01N21/17;G01N21/84;G01N21/956;G06F19/00 |
| 代理公司： | 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 | 代理人： | 秦晨 |
| 地址： | 美國加利*** | 國省代碼： | 美國;US |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 使用 抽樣 衍射 信號 選擇 一個 假想 剖面 用于 光學 計量 | ||
【權利要求書】：
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